نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
درباره پایگاه
ارتباط با ما
تاریخچه
ورود / ثبت نام
تعداد ۳ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۴۰ ثانیه یافت شد.
1. Progress in SOI structures and devices operating at extreme conditions
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کاربران)
پدیدآورنده:
ed. by F. Balestra, A. Nazarov and V.S. Lysenko.
کتابخانه:
مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی
(
قم
)
موضوع:
Extreme environments -- Congresses.,Semiconductors.,Silicon-on-insulator technology -- Congresses.
رده :
2. Semiconductor device reliability
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کاربران)
پدیدآورنده:
NATO Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability )9891 : Hغerakleion, Greece(
کتابخانه:
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
(
تهران
)
موضوع:
، Semiconductors- Reliability- Congresses
رده :
3. Symposium on modern insulator technology: Advanced products & solutions to reduce costs and increase reliability;coral gables ,Floride ,November 16-19,1997
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کاربران)
پدیدآورنده:
کتابخانه:
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
(
تهران
)
موضوع:
، Semiconductors- congresses,، Silicon -on -insulator technology- congresses
رده :
»
1
«
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد